반도체소자 테스트 시스템, 테스트핸들러, 테스트헤드, 반도체소자 테스터의 인터페이스블럭, 테스트가 이루어진 반도체소자의 분류방법 및 반도체소자 테스트 지원방법
Semiconductor device test system, test handler, and test head, interface block for semiconductor device tester, method for classifying tested semiconductor device and method for supporting semiconductor device testpatents-wipo patents-wipo